אנליזת מקרוסקופיה

מקרוסקופ אור

תכונות עיקריות הגדלה של 50X עד 2500X עם שילוב של שבע עדשות ותאורה אכרומטית כפולה לעבודה עם דגמים שקופים כגון עדשות, זכוכיות, וספיר חומרים ונוזלים ביולוגיים, פולימרים, מתכות מסוגים שונים וחומרים מרוכבים. למיקרוסקופ יכולות אנליזה ותאורה של אור לבן.

Dark Field המציג נקודות גבוהות יותר באור לבן והשאר כהה.

Phase Contrast הממירה את שינויי הפאזה באור העובר דרך דגימה שקופה לשינויי בהירות בתמונה ההופכים להיות גלויים כאשר מוצגים כווריאציות צבע ברמת בהירות וגוון שונים. 

מיקרוסקופ אור מקוטב (Polarizing) משלב טכניקות מיקרוסקופ אופטי המערבות אור מקוטב ו DIC המשמש לשיפור הניגודיות בדגימות שקופות.

למערכת האופטית יכולת ביטול שגיאות אופטיות בזמן שימוש במסננים ורכיבים מקוונים אחרים, מה שמבטיח תמונות מדויקות ביותר. כמו כן מצלמה 20 מגה פיקסל עם חיישן גדול מאוד להקלטת תמונות וסרטונים באיכות גבוהה מאוד הדמיה דיגיטלית, לצפייה וצילום ברזולוציה ואיכות גבוהים מאוד. התכנה מספקת מבחר רחב של פונקציות לכידה ועריכת תמונות, כולל תיקון צבע, לכידת זמן, תמונה "פנורמית" Stitching וחבילה של כלי מדידה. למיקרוסקופ במה עם שלשה משטחים גדולים, פקדי מיקוד סימטריים, מיקוד אופטי אופטימאלי וקביעת מגבלת גובה תנועה בציר Z למניעת נזק לדגם ואספקת תנועה חלקה ומדויקת לבדיקת דוגמאות קטנות עד גדולות בצורה אינטואיטיבית ומדויקת. 

  • בהתאם לבחירת הלקוח השירות יכלול הכנת דוחות עם תמונות וסרטונים או משלוח תמונות וסרטונים בלבד
  • יתכן וידרשו מחזיקים או טיפולים מקדימים לדגם לפני סריקה
  • החיוב לפי שעת עבודה

TEM (וגם STEM ו EDS)

מיקרוסקופ שידור אלקטרונים (TEM) טכניקת הדמיה ברזולוציה גבוהה שבה קרן אלקטרונים עוברת דרך דגימה דקה כדי לייצר תמונה. אלומת האלקטרונים מושפעת מהעובי/צפיפות הדגם, ההרכב, ובמקרים מסוימים, הגבישיות. האלקטרונים המועברים דרך הדגם מספקים לאחר מכן ניגודיות בתמונה המתקבלת. למיקרוסקופ רזולוציה שאין שני לה בגלל אורך הגל הקטן של האלקטרונים המשודרים.

בניגוד למיקרוסקופ אלקטרוני סורק (SEM), האוסף את עוצמת האלקטרונים המשניים בכל נקודה של הסריקה, רזולוציית TEM מוגבלת רק על ידי אורך הגל של האלקטרון הבודד ואיכות אופטיקה האלקטרונית. משמעות הדבר היא תמונה בקנה מידה תת ננומטר עד רזולוציה אטומית. המיקרוסקופ משלב הדמיית STEM יוצאת דופן ברזולוציה גבוהה מאוד וזיהוי אותות EDS למיפוי קומפוזיציה ואפיון כימי תלת מימדי.

  • להלן אפשרויות סריקה: TEMו\או  STEMו\או  EDS
  • השרות יכלול הכנת דוחות עם תמונות או משלוח תמונות בלבד (בהתאם לצרכי הלקוח)
  • יתכן וידרשו מחזיקים או טיפולים מקדימים לדגם לפני סריקה  
  • הלקוח יקבל הצעת מחיר לאחר שימסור נתונים על הדגם ומסמך דרישות המציין לדוגמה אזורים חשובים לאנליזה ותופעות בהן הוא רוצה להתמקד.

SEM

SEM מיקרוסקופ סורק אלקטרונים

מאפשר אנליזת פני שטח או אזור קרוב לפני השטח של הדגימה, שיטה מוצאת יישומים רבים כמעט בכל ענף של מדע, טכנולוגיה ותעשייה וצרכים אקדמיים ותעשייתיים, איכות הדמיה מעולה עבור החומרים המאתגרים ביותר או הפרטים הקטנים ביותר, וניסויים דינמיים.

  • השרות יכלול הכנת דוחות עם תמונות או משלוח תמונות בלבד (בהתאם לצרכי הלקוח)
  • במידה וידרשו מחזיקים או טיפולים מקדימים לדגם לפני סריקה (ציפוי, ניסור, ליטוש או תהליך אחר)   
  • הלקוח יקבל הצעת מחיר לאחר שימסור נתונים על הדגם ומסמך דרישות המציין לדוגמה אזורים חשובים לאנליזה ותופעות בהן הוא רוצה להתמקד

AFM (SFM)

מיקרוסקופית כוח אטומי (AFM) היא טכניקת סריקת משטח בעלת רזולוציה בקנה מידה תת-ננומטרי. AFM מתאר קבוצה של טכניקות המשמשות למחקרי משטח לא הרסניים בקנה מידה ננו. יש להם רזולוציה בסדר גודל של פי 103 טובה יותר ממגבלת הרזולוציה של מיקרוסקופיה אופטית. AFM נמצא בשימוש נרחב לאיסוף נתונים על תכונות מכניות, פונקציונליות וחשמליות שונות בקנה מידה ננו, כמו גם למחקרי טופוגרפיה (משטח). בדרך כלל, AFM משמש להדמיית טופוגרפיה של פני השטח על ידי רישום מיקום הדגימה ביחס לקצה ולאחר מכן רישום גובה הבדיקה התואם לאינטראקציה מתמדת בין בדיקה לדגימה וכן למגוון המאפיינים המכניים, הפונקציונליים והחשמליים. מדידת הכוחות בין הדגימה לבדיקה כצורה של ספקטרוסקופיה של כוח, כדי לבחון תכונות פיזיקליות ומכניות.

AFM & SFM (AUOTOMIC Force Microscopy)

מיקרוסקופיית AFM היא טכניקת סריקת משטח בעלת רזולוציה בקנה מידה תת-ננומטרי. AFM מתאר קבוצה של טכניקות המשמשות למחקרי משטח לא הרסניים בקנה מידה ננו. יש להם רזולוציה בסדר גודל של פי 103 טובה יותר ממגבלת הרזולוציה של מיקרוסקופיה אופטית. AFM נמצא בשימוש נרחב לאיסוף נתונים על תכונות מכניות, פונקציונליות וחשמליות שונות בקנה מידה ננו, כמו גם למחקרי טופוגרפיה (משטח). בדרך כלל, AFM משמש להדמיית טופוגרפיה של פני השטח על ידי רישום מיקום הדגימה ביחס לקצה ולאחר מכן רישום גובה הבדיקה התואם לאינטראקציה מתמדת בין בדיקה לדגימה וכן למגוון המאפיינים המכניים, הפונקציונליים והחשמליים. מדידת הכוחות בין הדגימה לבדיקה כצורה של ספקטרוסקופיה של כוח, כדי לבחון תכונות פיזיקליות ומכניות.

  • בהתאם לבחירת הלקוח השירות יכלול הכנת דוחות עם תמונות או משלוח תמונות בלבד
  • יתכן וידרשו טיפולים מקדימים לדגם לפני סריקה (ניסור, ליטוש או תהליך אחר)
  • הלקוח יקבל הצעת מחיר לאחר שימסור נתונים על הדגם ומסמך דרישות המציין לדוגמה אזורים חשובים לאנליזה ותופעות בהן הוא רוצה להתמקד

 

הבדלים משמעותיים בין AFM ל-SEM מתעוררים בכל הנוגע ליצירת ייצוג של משטח מדגם.

  1. על משטחים חלקים מבחינה אטומית, AFM מסוגל לייצר טופוגרפיה תלת מימדית באמצעות סריקה בודדת בלבד. AFM מספק גם רמת פירוט גבוהה יותר עבור משטחים אלה, מכיוון ש-SEM אינו יעיל בפתרון השינויים העדינים על משטח חלק מאוד.
  2. הדומה בעת סריקת סרטים דקים, כמו אלה המשמשים כקבלים בהתקני זיכרון, SEM ו-AFM יכולים להפיק תוצאות דומות מאוד. עם זאת, בתמונות שנוצרו על ידי SEM, לפעמים קשה לקבוע את השיפוע של משטח. לעומת זאת, AFM מספק מידע גובה מדוייק, מה שמקל לקבוע אם כיווניות פני השטח על סרט דק עולה או יורדת.
  3. על משטחים גסים יחסית, עומק השדה הגדול של SEM נותן לו יתרון משמעותי על פני AFM. אם לדגימה יש פרטים בגובה מילימטרים, חדירת אלומת האלקטרונים המשמשת ב-SEM מאפשרת לצלם את הפרטים הללו. ל-SEM יש גם יתרון מובהק על פני AFM בכל הנוגע לקביעת הרכב החומר. כאשר אלומת האלקטרונים פוגעת בדגימה, נפלטים מספר אותות שונים, כולל אלקטרונים מפוזרים לאחור, אלקטרונים משניים, קרני רנטגן, אור ואלקטרונים. כל האותות הללו מספקים סוגים שונים של מידע.

אינטרפרומטר Interferometer

אינורפרומטרים הם כלי חקירה הפועלים על ידי מיזוג של שני מקורות אור או יותר ליצירת דפוס התאבכויות, שניתן למדוד ולנתח, מידע על האובייקט או התופעה הנחקרים. הם משמשים לעתים קרובות כדי לבצע מדידות קטנות מאוד שאינן ניתנות להשגה בדרך אחרת. זו הסיבה שהם כה חזקים לזיהוי גלי כבידה, לדוגמה מדידת מרחק של 1/10,000 מרוחב פרוטון. הם משמשים למדידה במגוון אפליקציות, החל מהווריאציות הקטנות ביותר על פני השטח של אורגניזם מיקרוסקופי ועד זיהוי גלי כבידה.

בהתאם לבחירת הלקוח השירות יכלול הכנת דוחות עם תמונות או משלוח תמונות בלבד. יתכן וידרשו טיפולים מקדימים לדגם לפני סריקה (ניסור, ליטוש או תהליך אחר). הלקוח יקבל הצעת מחיר לאחר שימסור נתונים על הדגם ומסמך דרישות המציין לדוגמה אזורים חשובים לאנליזה ותופעות בהן הוא רוצה להתמקד