מיקרוסקופיית AFM היא טכניקת סריקת משטח בעלת רזולוציה בקנה מידה תת-ננומטרי. AFM מתאר קבוצה של טכניקות המשמשות למחקרי משטח לא הרסניים בקנה מידה ננו. יש להם רזולוציה בסדר גודל של פי 103 טובה יותר ממגבלת הרזולוציה של מיקרוסקופיה אופטית. AFM נמצא בשימוש נרחב לאיסוף נתונים על תכונות מכניות, פונקציונליות וחשמליות שונות בקנה מידה ננו, כמו גם למחקרי טופוגרפיה (משטח). בדרך כלל, AFM משמש להדמיית טופוגרפיה של פני השטח על ידי רישום מיקום הדגימה ביחס לקצה ולאחר מכן רישום גובה הבדיקה התואם לאינטראקציה מתמדת בין בדיקה לדגימה וכן למגוון המאפיינים המכניים, הפונקציונליים והחשמליים. מדידת הכוחות בין הדגימה לבדיקה כצורה של ספקטרוסקופיה של כוח, כדי לבחון תכונות פיזיקליות ומכניות.

• בהתאם לבחירת הלקוח השירות יכלול הכנת דוחות עם תמונות או משלוח תמונות בלבד
• יתכן וידרשו טיפולים מקדימים לדגם לפני סריקה (ניסור, ליטוש או תהליך אחר)
• הלקוח יקבל הצעת מחיר לאחר שימסור נתונים על הדגם ומסמך דרישות המציין לדוגמה אזורים חשובים לאנליזה ותופעות בהן הוא רוצה להתמקד

הבדלים משמעותיים בין AFM ל-SEM מתעוררים בכל הנוגע ליצירת ייצוג של משטח מדגם.

1. על משטחים חלקים מבחינה אטומית, AFM מסוגל לייצר טופוגרפיה תלת מימדית באמצעות סריקה בודדת בלבד. AFM מספק גם רמת פירוט גבוהה יותר עבור משטחים אלה, מכיוון ש-SEM אינו יעיל בפתרון השינויים העדינים על משטח חלק מאוד.
2. הדומה בעת סריקת סרטים דקים, כמו אלה המשמשים כקבלים בהתקני זיכרון, SEM ו-AFM יכולים להפיק תוצאות דומות מאוד. עם זאת, בתמונות שנוצרו על ידי SEM, לפעמים קשה לקבוע את השיפוע של משטח. לעומת זאת, AFM מספק מידע גובה מדוייק, מה שמקל לקבוע אם כיווניות פני השטח על סרט דק עולה או יורדת.
3. על משטחים גסים יחסית, עומק השדה הגדול של SEM נותן לו יתרון משמעותי על פני AFM. אם לדגימה יש פרטים בגובה מילימטרים, חדירת אלומת האלקטרונים המשמשת ב-SEM מאפשרת לצלם את הפרטים הללו. ל-SEM יש גם יתרון מובהק על פני AFM בכל הנוגע לקביעת הרכב החומר. כאשר אלומת האלקטרונים פוגעת בדגימה, נפלטים מספר אותות שונים, כולל אלקטרונים מפוזרים לאחור, אלקטרונים משניים, קרני רנטגן, אור ואלקטרונים. כל האותות הללו מספקים סוגים שונים של מידע.